Publication:
Electronic Components Authentication Methods Based on Decapsulation and Chip Photo Analysis

Дата
2021
Авторы
Leukhin, I. B.
Kessarinskiy, L. N.
Kameneva, A. S.
Durakovskiy, A. P.
Shirin, A. O.
Taiibov, F. F.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт интеллектуальных кибернетических систем
Цель ИИКС и стратегия развития - это подготовка кадров, способных противостоять современным угрозам и вызовам, обладающих знаниями и компетенциями в области кибернетики, информационной и финансовой безопасности для решения задач разработки базового программного обеспечения, повышения защищенности критически важных информационных систем и противодействия отмыванию денег, полученных преступным путем, и финансированию терроризма.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2021 IEEE.The shortage of microelectronic components increases the risks for electronics manufacturers to face counterfeit products. The article examines a method for chip marks analyzing in order to identify counterfeit microcircuits.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Electronic Components Authentication Methods Based on Decapsulation and Chip Photo Analysis / Leukhin, I.B. [et al.] // Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM. - 2021. - 2021-September. - P. 127-130. - 10.1109/MIEL52794.2021.9569204
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL52794.2021.9569204
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85118428614&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/24921
Коллекции
Публикации