Publication:
Measurements of the X-Ray Line Spectrum of a Micropinch Source by a High-Sensitive Track Detector

Дата
2019
Авторы
Dolgov, A. N.
Prokhorovich, D. E.
Klyachin, N. A.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт общей профессиональной подготовки (ИОПП)
Миссией Института является: фундаментальная базовая подготовка студентов, необходимая для получения качественного образования на уровне требований международных стандартов; удовлетворение потребностей обучающихся в интеллектуальном, культурном, нравственном развитии и приобретении ими профессиональных знаний; формирование у студентов мотивации и умения учиться; профессиональная ориентация школьников и студентов в избранной области знаний, формирование способностей и навыков профессионального самоопределения и профессионального саморазвития. Основными целями и задачами Института являются: обеспечение высококачественной (фундаментальной) базовой подготовки студентов бакалавриата и специалитета; поддержка и развитие у студентов стремления к осознанному продолжению обучения в институтах (САЕ и др.) и на факультетах Университета; обеспечение преемственности образовательных программ общего среднего и высшего образования; обеспечение высокого качества довузовской подготовки учащихся Предуниверситария и школ-партнеров НИЯУ МИФИ за счет интеграции основного и дополнительного образования; учебно-методическое руководство общеобразовательными кафедрами Института, осуществляющими подготовку бакалавров и специалистов по социо-гуманитарным, общепрофессиональным и естественнонаучным дисциплинам, обеспечение единства требований к базовой подготовке студентов в рамках крупных научно-образовательных направлений (областей знаний).
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019, Pleiades Publishing, Ltd.Abstract: The efficiency of the diffusion chamber as a tool for diagnostics of pulsed high-temperature plasma in a single discharge is demonstrated. Creation of a diffusion chamber operating at a temperature exceeding the temperature of the ambient medium will make it possible to simplify the device design and operation. Based on the experimental data obtained with the help of the diffusion chamber by means of diffraction spectroscopy, a hypothesis is put forward on the advanced development of electron acceleration processes compared to the process of micropinch plasma decay caused by anomalous plasma heating.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Dolgov, A. N. Measurements of the X-Ray Line Spectrum of a Micropinch Source by a High-Sensitive Track Detector / Dolgov, A.N., Prokhorovich, D.E., Klyachin, N.A. // Plasma Physics Reports. - 2019. - 45. - № 7. - P. 650-656. - 10.1134/S1063780X19060035
URI
https://www.doi.org/10.1134/S1063780X19060035
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85068768887&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000475569600005
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18390
Коллекции
Публикации