Publication: ПЛЕНАРНАЯ ЧАСТЬ РОССИЙСКОГО ФОРУМА «МИКРОЭЛЕКТРОНИКА 2023»
Дата
2024
Авторы
Ковалевский, Ю. С.
Journal Title
Безопасность информационных технологий
Journal ISSN
Volume Title
Безопасность информационных технологий
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
Пленарная часть Российского форума «Микроэлектроника 2023», проходившего с 9 по 14 октября 2023 г. в Парке науки и искусства федеральной территории «Сириус», включала в себя четыре заседания, на которых обсуждались как вопросы развития отрасли в целом, так и достижения и планы по отдельным актуальным направлениям. Здесь рассматриваются доклады, представленные на двух пленарных заседаниях форума, которые были посвящены вопросам доверенности электронных систем и программно-аппаратных комплексов (ПАК) для критической информационной инфраструктуры (КИИ) и развитию ЭКБ, алгоритмов и технологий для реализации искусственного и гибридного интеллекта.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
КОВАЛЕВСКИЙ, Юрий С.. ПЛЕНАРНАЯ ЧАСТЬ РОССИЙСКОГО ФОРУМА «МИКРОЭЛЕКТРОНИКА 2023». Безопасность информационных технологий, [S.l.], v. 31, n. 1, p. 8-20, март 2024. ISSN 2074-7136. Доступно на: <https://bit.spels.ru/index.php/bit/article/view/1608>.