Publication:
High-fidelity quantum tomography with imperfect measurements

Дата
2019
Авторы
Bantysh, B. I.
Fastovets, D. V.
Bogdanov, Y. I.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 SPIE. In the current work we address the problem of quantum process tomography (QPT) in the case of imperfect preparation and measurement of the states which are used for QPT. The fuzzy measurements approach which helps us to efficiently take these imperfections into account is considered. However, to implement such a procedure one should have a detailed information about the errors. An approach for obtaining the partial information about them is proposed. It is based on the tomography of the ideal identity gate. This gate could be implemented by performing the measurement right after the initial state preparation. By using the result of the identity gate tomography we were able to significantly improve further QPT procedures. The proposed approach has been tested experimentally on the IBM superconducting quantum processor. As a result, we have obtained an increase in fidelity from 89% to 98% for Hadamard transformation and from 77% to 95% for CNOT gate.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Bantysh, B. I. High-fidelity quantum tomography with imperfect measurements / Bantysh, B.I., Fastovets, D.V., Bogdanov, Y.I. // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. - 2019. - 11022. - 10.1117/12.2522413
Коллекции