Publication: ИССЛЕДОВАНИЯ СБОЕУСТОЙЧИВОСТИ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ ПОД ДЕЙСТВИЕМ ОТДЕЛЬНЫХ ЧАСТИЦ
Дата
2025
Авторы
Александров, П. А.
Беклемишева, А. В.
Макавеев, П. Ю.
Уксусов, Е. И.
Фанченко, С. С.
Ефименко, Е. В.
Journal Title
Вестник НИЯУ «МИФИ»
Journal ISSN
Volume Title
Вестник НИЯУ «МИФИ»
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
Актуальной проблемой на сегодняшний день является обеспечение отказоустойчивости в систе-мах управления, работающих в условиях воздействия высокоэнергетических частиц, например, космического излучения, состоящего главным образом из протонов, имеющих энергию до 1020 эВ. Таких частиц довольно мало, но они в результате взаимодействия с веществом продуцируют нейтроны, часть из которых в результате упругих столкновений с атомами кремния (это основная составляющая современной микросхемы) дают первично выбитые атомы (ПВА) достаточной энергии для генерации электронно-дырочных пар в полупроводнике, и уже они, воздействуя на работающий транзистор, могут дать сбой в работе всего устройства. Сразу ясно, что теоретический расчет здесь сильно затруднен из-за сложности описанных выше процессов, и поэтому нужны эксперименты с реальным облучением и измерением количества сбоев. В данной работе экспериментально исследуется сбоеустойчивость при воздействии нейтронов Pu-Be источника со средней энергией около 3.8 МэВ, на интегральную микросхему. Разработан экспериментальный стенд, фиксирующий количество сбоев в микросхеме при облучении. Демонстрируется возмож-ность повышения отказоустойчивости микросхем ПЛИС за счет использования резервирования (пространственного и временного троирования)
Описание
Ключевые слова
Микросхемы , Программируемые логические интегральные схемы , Высокоэнергетические частицы , Электронные компоненты , Микроэлектроника , Сбоеустойчивость , Нейтроны , Отказоустойчивость в системах управления
Цитирование
Александров П.А., Беклемишева А.В., Макавеев П.Ю., Уксусов Е.И., Фанченко С.С., Ефименко Е.В. ИССЛЕДОВАНИЯ СБОЕУСТОЙЧИВОСТИ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ ПОД ДЕЙСТВИЕМ ОТДЕЛЬНЫХ ЧАСТИЦ. Вестник НИЯУ МИФИ. 2025;14(1):85-90. https://doi.org/10.26583/vestnik.2025.1.8. EDN: ZCSJRI