Персона: Абин, Дмитрий Александрович
Загружается...
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Статус
Фамилия
Абин
Имя
Дмитрий Александрович
Имя
2 results
Результаты поиска
Теперь показываю 1 - 2 из 2
- ПубликацияОткрытый доступВлияниe механических нагрузок на сверхпроводящие свойства ВТСП лент и сборок(НИЯУ МИФИ, 2024) Бородако, К. А.; Осипов, М. А.; Покровский, С. В.; Абин, Д. А.; Веселова, С. В.; Стариковский, А. С.; Руднев, И. А.; Руднев, Игорь Анатольевич; Стариковский, Александр Сергеевич; Осипов, Максим Андреевич; Покровский, Сергей Владимирович; Веселова, Светлана Владимировна; Абин, Дмитрий Александрович; Бородако, Кирилл АнатольевичПроведено исследование деформационной стойкости высокотемпературных сверхпроводящих (ВТСП) лент при различных параметрах деформации. С помощью четырехконтактного метода измерялся критический ток в образцах, деформированных на инденторах диаметрами 5–20 мм растягивающими усилиями до 200 Н. Исследованы повреждения сверхпроводящего слоя и локальные сверхпроводящие свойства подвергнутых механическим воздействиям образцов при помощи сканирующей электронной микроскопии и сканирующей Холловской магнитометрии.
- ПубликацияОткрытый доступОсобенности исследования втсп-лент методом низкотемпературной магнито-оптической визуализации(2024) Осипов, М. А.; Абин, Д. А.; Руднев, И. А.; Осипов, Максим Андреевич; Руднев, Игорь Анатольевич; Абин, Дмитрий АлександровичВ настоящей работе подробно разобраны особенности применения методики магнитооптической визуализации для исследования ВТСП-лент. Представлено подробное описание методики эксперимента, особенностей исследовательской установки для исследования при низких температурах. Описаны особенности проникновения магнитного поля в сверхпроводник, подробно описана процедура калибровки магнитооптической пленки и алгоритмы вычисления профилей магнитного поля по магнитооптическим изображениям.