Персона:
Краснюк, Андрей Анатольевич

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Статус
Фамилия
Краснюк
Имя
Андрей Анатольевич
Имя

Фильтры

2020 - 20212
2
2
Сброс фильтров

Настройки

Автор: Antonov, A. A. ×

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 2 из 2
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    The internal structure of microprocessors for industrial control and data processing systems
    (2021) Antonov, A. A.; Krasnyuk, A.; Краснюк, Андрей Анатольевич
    © Published under licence by IOP Publishing Ltd.The fundamental objective of the problem is a comprehensive study of the internal structure of microprocessors for industrial microelectronics, design technology to ensure VLSI efficiency at extremely high temperature levels with external destructive factors. Based on the data we have studied, the main problem of choosing optimal structural solutions for industrial systems based on them, providing the best resistance and fault tolerance of memory and microprocessors under difficult operating conditions, requires a preliminary comparative analysis of various schemes and functional solutions used for IP blocks.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Elements of location and correction of errors for redundant stand-alone information-measuring systems
    (2020) Merkulova, A. A.; Antonov, A. A.; Prozorova, A. G.; Krasnyuk, A. A.; Краснюк, Андрей Анатольевич
    © 2020 IEEE.The paper presents a number of results of analysis and modeling of elements and schemes that provide the location of errors in multi-channel systems and implemented on the basis of planar CMOS technologies as separate functional blocks.