Персона: Ефимов, Никита Евгеньевич
Загружается...
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Статус
Фамилия
Ефимов
Имя
Никита Евгеньевич
Имя
2 results
Результаты поиска
Теперь показываю 1 - 2 из 2
- ПубликацияОткрытый доступПРОГРАММА ISINCA ДЛЯ АНАЛИЗА РЕЗУЛЬТАТОВ МОНТЕ-КАРЛО МОДЕЛИРОВАНИЯ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ АТОМОВ С ПОВЕРХНОСТЬЮ ТВЁРДОГО ТЕЛА(НИЯУ МИФИ, 2024) Никитин, И. А.; Синельников, Д. Н.; Гришаев, М. В.; Ефимов, Н. Е.; Ефимов, Никита Евгеньевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич; Синельников, Дмитрий НиколаевичПрограмма «ISInCa.jar» предназначена для формирования интегральных (коэффициенты рассеяния, распыления, внедрения и прохождения) и дифференциальных (угловых и энергетических распределений и карт) характеристик для произвольных углов регистрации и сортов частиц на основе результатов Монте-Карло расчётов взаимодействия атомов с поверхностью твёрдого тела в приближении последовательных парных соударений. Программа осуществляет расчёт коэффициентов и спектров, их визуализацию и сохранение сформированных данных в текстовые файлы. Область применения – научные и технологические ионно-пучковые и плазменные установки с энергиями частиц от 100 эВ до 100 кэВ. Работа выполнена при поддержке Министерство науки и высшего образования Российской Федерации проект №075-03-2024-096 от 18.01.2024. Тип ЭВМ: IBM PC совместимый компьютер; ОС: MS Windows XP, 7, 10, 11; Linux Ubuntu (LTS версия (18.04/20.04/22.04/24.04)), Linux (Debian, CentOS, Astra Linux, RedOS, Arch, Gentoo).
- ПубликацияОткрытый доступLEIS CALCULATOR ДЛЯ ИНТЕРПРЕТАЦИИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ СПЕКТРОВ РАССЕЯННЫХ НА ТВЁРДОМ ТЕЛЕ ИОНОВ(2023) Никитин, И. А.; Синельников, Д. Н.; Ефимов, Н. Е.; Гришаев, М. В.; Гришаев, Максим Валерьевич; Никитин, Иван Андреевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Синельников, Дмитрий НиколаевичПрограмма предназначена для элементного анализа образцов на основе энергетических спектров, полученных методом спектроскопии рассеяния и выбивания ионов. В качестве входных параметров вводятся энергия диагностического пучка, атомный номер налетающей частицы и предполагаемых частиц поверхности, а также геометрия рассеяния. Программа рассчитывает положения пиков, соответствующих элементам поверхности, на энергетическом спектре, а также сечения взаимодействия на основе экранированных кулоновских потенциалов (Kr-C, TFM, ZBL), необходимых для определения концентраций элементов. Область применения: научные и производственные ионно-пучковые установки анализа поверхности с энергиями частиц от 100 эВ до 100 кэВ. Тип ЭВМ: IBM PC - совмест. ПК; ОС: Windows ХР/7/10/11.