Патенты
Постоянный URI для этой коллекции
Обзор
Просмотр Патенты по Автор "Быков, И. В."
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Количество результатов на страницу
Sort Options
- ПубликацияОткрытый доступСубстрат для усиленной поверхностью спектроскопии комбинационного рассеяния света(федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (НИЯУ МИФИ), 2021-04-29) Соколов, П. М.; Самохвалов, П. С.; Линьков, П. А.; Цой, Т. Д.; Нифонтова, Г. О.; Быков, И. В.; Иванов, А. В.; Сарычев, А. К.; Бахолдин, Н. В.; Рыжиков, И. А.; Цой, Татьяна Дмитриевна; Самохвалов, Павел Сергеевич; Соколов, Павел МихайловичИзобретение относится к области измерительной техники и касается субстрата для усиленной поверхностью спектроскопии комбинационного рассеяния света. Субстрат состоит из твердой плоской подложки, на поверхности которой иммобилизованы аффинные метки одного и более видов для связывания с аффинными группами на молекуле исследуемого образца, и слоя металла, полученного путем напыления поверх поверхности образца.