Publication:
Методы и средства прогнозирования и обеспечения стойкости сегнетоэлектрических запоминающих устройств к воздействию радиационных факторов

Дата
2012
Авторы
Орлов, А. А.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления)
Ключевые слова
Автор МИФИ , Сегнетоэлектрика , Запоминающие устройства , Микросхемы , Импульсные рентгеновские излучения , 05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления
Цитирование
Орлов, А. А. Методы и средства прогнозирования и обеспечения стойкости сегнетоэлектрических запоминающих устройств к воздействию радиационных факторов : автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления) / А. А. Орлов ; рук. работы В. А. Телец. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2012. - 27 с.