Publication:
Focusing Properties of Bent Micro-Channel Plates in the X-Ray Range

Дата
2019
Авторы
Mazuritskiy, M. I.
Lerer, A. M.
Marcelli, A.
Hampai, D.
Dabagov, S. B.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019, Pleiades Publishing, Ltd.Abstract: Compact and flexible Micro-Channel Plate (MCP) devices are versatile optical systems suitable to condense and shape intense X-ray beams. Studies on propagation of both soft and hard X-ray radiations through these devices are of continuous interests because of increasing demand of synchrotron radiation X‑ray sources, in particular, to enhance the spot stability and to optimize the beam for specific experiments. In this work synchrotron radiation sources as well as a conventional X-ray tube coupled to polycapillary lenses have been used to characterize the transmission and the angular distribution of thin flat or spherically bent MCPs with different curvature radii. It is shown that the radiation beam from both synchrotron radiation and conventional X-ray sources can be efficiently condensed by thin spherically bent MCPs.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Focusing Properties of Bent Micro-Channel Plates in the X-Ray Range / Mazuritskiy, M.I. [et al.] // Journal of Surface Investigation. - 2019. - 13. - № 6. - P. 1005-1013. - 10.1134/S1027451019060144
URI
https://www.doi.org/10.1134/S1027451019060144
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85077023297&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000511702500002
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/19081
Коллекции
Публикации