Publication:
Normal state interlayer conductivity in epitaxial Nd2-xCexCuO4 films deposited on SrTiO3 (110) single crystal substrates

Дата
2019
Авторы
Popov, M. R.
Klepikova, A. S.
Charikova, T. B.
Talantsev, E. F.
Ivanov, A. A.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IOP Publishing Ltd.In this paper we present the experimental results on the temperature dependences of c-axis resistivity, (T), for epitaxial films of n-type superconductor Nd2-xCexCuO4+δ deposited on (110) SrTiO3 single crystal substrate in a wide range of Ce content from lightly to heavily substitution regions () under an optimal annealing. Alternative empirical models were used for a description of the observed semiconductor-like dependence. An excellent quantitative depiction of the experimental dependences turned out to be possible for all investigated samples in a model of natural superlattice with temperature-dependent barrier height.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Normal state interlayer conductivity in epitaxial Nd2-xCexCuO4 films deposited on SrTiO3 (110) single crystal substrates / Popov, M.R. [et al.] // Materials Research Express. - 2019. - 6. - № 9. - 10.1088/2053-1591/ab32c8
URI
https://www.doi.org/10.1088/2053-1591/ab32c8
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85070771952&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000477595600002
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18559
Коллекции
Публикации