Publication:
Методы и средства исследования радиационных эффектов в интегральных оперативных запоминающих устройствах с использованием локального воздействия

Файлы
Yanenko_Metody_i_sredstva_issledovaniya_2009.pdf(315.31 KB)
Дата
2009
Авторы
Яненко, А. В.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления)
Ключевые слова
Автор МИФИ , Запоминающие устройства , 05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления
Цитирование
Яненко, А. В. Методы и средства исследования радиационных эффектов в интегральных оперативных запоминающих устройствах с использованием локального воздействия : автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления) / А. В. Яненко ; рук. работы А. И. Чумаков. - Москва : МИФИ, 2009. - 21 с.
URI
https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/12931
 https://lib-repository.mephi.ru/abstracts_of_dissertations_mephi/Yanenko_Metody_i_sredstva_issledovaniya_2009.pdf
Коллекции
Авторефераты диссертаций