Publication:
Annealing of Irradiation Defects in Si3N4: TEM Examination

Файлы
AnnealingExamination.pdf(2.24 MB)
Дата
2025
Авторы
Ibrayeva, A.
O'Connell, J.
vanVuuren, A. J.
Skuratov, V. A.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт ядерной физики и технологий
Цель ИЯФиТ и стратегия развития - создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области ядерной физики и технологий, радиационного материаловедения, физики элементарных частиц, астрофизики и космофизики.
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Annealing of Irradiation Defects in Si3N4: TEM Examination / Ibrayeva, A. [et al.] // Eurasian Journal of Physics and Functional Materials. - 2025. - 9. - № 1. - P. 11-15. - 10.69912/2616-8537.1237
URI
https://www.doi.org/10.69912/2616-8537.1237
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-105001590728&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/37163
Коллекции
Публикации