Publication:
Solid-State Drives Parameters Control System for Ionizing Radiation Tests

Дата
2021
Авторы
Chepov, V. A.
Shmakov, S. B.
Shvetsov-Shiovsky, I. I.
Petrov, A. G.
Kalashnikov, V. D.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2021 IEEE.The paper describes an automated system for monitoring the parameters of solid-state drives under the influence of ionizing radiation using National Instruments equipment and NI LabVIEW software. The paper presents a block diagram of a test bench developed based on the National Instruments hardware complex. It allows us to supply voltage to a device under test (DUT), measure the value of the DUT current consumption, and carry out functional control of solid-state drives with NAND flash memory and SATA and USB interfaces in order to register single event latch-ups (SEL) and the loss of the device's ability to read and rewrite information. The paper provides a detailed description of the functional tools included in the software that was developed using the NI LabVIEW programming environment and used for reading and subsequent analysis of data on solid-state drives, as well as for writing new data and the ability to perform various operations on them. The paper describes the main steps of the total ionizing dose testing procedure that was carried out on solid-state drives. The results of the experiment are presented.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Solid-State Drives Parameters Control System for Ionizing Radiation Tests / Chepov, V.A. [et al.] // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications. - 2021. - 10.1109/SIBCON50419.2021.9438860
URI
https://www.doi.org/10.1109/SIBCON50419.2021.9438860
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85107704069&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000680842100011
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/24199
Коллекции
Публикации