Publication:
Comparison of the results of the aberration approach for the calculation of electrostatic TOF mass analyzers with simulation in SIMION

Файлы
ssrn-5333843.pdf(519.67 KB)
Дата
2026
Авторы
Odintsov, D. D.
Poteshin, S. S.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Odintsov, D. D. Comparison of the results of the aberration approach for the calculation of electrostatic TOF mass analyzers with simulation in SIMION / Odintsov, D. D., Poteshin, S. S. // International Journal of Mass Spectrometry. - 2026. - 519. - 10.1016/j.ijms.2025.117526
URI
https://www.doi.org/10.1016/j.ijms.2025.117526
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-105015782547&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/38627
Коллекции
Публикации