Publication:
Features of ion mobility spectrometry hardware-software complex

Дата
2019
Авторы
Shaltaeva, Y. R.
Gromov, E. A.
Belyakov, V. V.
Golovin, A. V.
Vasilyev, V. K.
Malkin, E. K.
Matusko, M. A.
Ivanov, I. I.
Показать ещё 1
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© Published under licence by IOP Publishing Ltd. The ion mobility spectrometer (IMS) is a complex hardware and software device for gaseous analysis. The article describes bipolar IMS control system. The paper lists the main requirements in electronic units, the modes of their operation, the ranges of normal operation and the algorithm for handling emergency situations. The main electronics include: a unit for collecting and processing spectrometric data, an ion source control unit, a gate control unit, high-voltage generators, an ion mobility spectrometer control and synchronization system. The structure of additional electronics includes: control unit of actuating devices, air conditioning system, self-diagnostics and protection system. This article may be useful to designers of complex electronic analytical systems.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Features of ion mobility spectrometry hardware-software complex / Shaltaeva, Y.R. [et al.] // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. - 2019. - 475. - № 1. - 10.1088/1757-899X/475/1/012006
URI
https://www.doi.org/10.1088/1757-899X/475/1/012006
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85062683853&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/16665
Коллекции
Публикации