Publication:
Radiation Degradation of Temperature Dependences of Electrical Parameters of Bipolar Operational Amplifiers

Дата
2019
Авторы
Bakerenkov, A. S.
Pershenkov, V. S.
Felitsyn, V. A.
Rodin, A. S.
Telets, V. A.
Belyakov, V. V.
Zhukov, A. I.
Glukhov, N. S.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.The impact of radiation degradation on the temperature dependence of electrical parameters of bipolar operational amplifiers is presented. Results of the researches can improve our understanding of physical and circuit radiation effects in bipolar operational amplifiers.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Radiation Degradation of Temperature Dependences of Electrical Parameters of Bipolar Operational Amplifiers / Bakerenkov, A.S. [et al.] // IEEE Radiation Effects Data Workshop. - 2019. - 2019-July. - 10.1109/REDW.2019.8906541
Коллекции