Publication:
Технические и методические средства проведения лазерных испытаний изделий полупроводниковой электроники на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц.

Дата
2018
Авторы
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
автореф. дис. ... кандидата техн. наук: 05.13.05
Ключевые слова
Автор МИФИ , Лазерные излучения , ТЗЧ , Порог ОРЭ , 05.13.05 - элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
Цитирование
Маврицкий, О. Б. Технические и методические средства проведения лазерных испытаний изделий полупроводниковой электроники на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц. : автореф. дис. ... кандидата техн. наук: 05.13.05 / О. Б. Маврицкий ; рук. работы А. И. Чумаков ; [Место защиты: Нац. исслед. ядерный ун-т "МИФИ"]. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2018. - 27 с.