Publication:
Blocking of Impacts of Single Ionizing Particles by CMOS C-Element in Two-Phase Systems

Дата
2019
Авторы
Katunin, Y. V.
Petrov, K. A.
Stenin, V. Y.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.The work presents the TCAD simulation of the 65 nm bulk CMOS C-element as resistant to the single-event transients. The charge collection from a track of a single nuclear particle simulates in impacted on drain regions of the transistors, which leads to the error pulses in the output of 2-phase inverters and C-element. The TCAD simulation used the tracks along the normal to the chip. The linear energy transfer from a particle to the track is 60 MeV.cm2/mg.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Katunin, Y. V. Blocking of Impacts of Single Ionizing Particles by CMOS C-Element in Two-Phase Systems / Katunin, Y.V., Petrov, K.A., Stenin, V.Y. // 2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics, MIEL 2019 - Proceedings. - 2019. - P. 189-192. - 10.1109/MIEL.2019.8889609
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL.2019.8889609
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85075358706&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000565455600040
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18916
Коллекции
Публикации