Персона:
Колосова, Анна Сергеевна

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Статус
Фамилия
Колосова
Имя
Анна Сергеевна
Имя

Фильтры

20191
1
1
Сброс фильтров

Настройки

End date: 2019 × Start date: 2019 ×

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 1 из 1
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Heavy-Ion-Induced Single Event Burnout in SiC Schottky Diodes: Safe Operating Area
    (2019) Gromova, P. S.; Davydov, G. G.; Tararaksin, A. S.; Kolosova, A. S.; Boychenko, D. V.; Давыдов, Георгий Георгиевич; Тарараксин, Александр Сергеевич; Колосова, Анна Сергеевна; Бойченко, Дмитрий Владимирович
    © 2019 IEEE.Heavy-ion-induced single event burnout (SEB) is studied experimentally for several types of 4H-SiC Schottky power diodes with various bias voltages applied. Safe operating voltage area for each type was defined and analyzed. The comparison with Si power devices was carried out.