Персона:
Ефимов, Никита Евгеньевич

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Статус
Фамилия
Ефимов
Имя
Никита Евгеньевич
Имя

Фильтры

2023 - 20242
2
2
Сброс фильтров

Настройки

Автор: Гришаев, М. В. ×

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 2 из 2
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Открытый доступ
    Анализ влияния режимов лазерного облучения поверхности при диагностике накопления изотопов водорода
    (2024) Ефимов, Н. Е.; Синельников, Д. Н.; Гришаев, М. В.; Гаспарян, Ю. М.; Ефимов, В. С.; Крат, С. А.; Гаспарян, Юрий Микаэлович; Ефимов, Никита Евгеньевич; Гришаев, Максим Валерьевич; Синельников, Дмитрий Николаевич
    В работе проведено сравнение сигналов лазерно-ассистированной масс-спектрометрии для двух длительностей лазерных импульсов (15 нс и 80 пс) на примере дейтерированных вольфрамовых пленок и образцов титан−ванадиевого сплава. Представлена методика подготовки насыщенных дейтерием образцов, обеспечивающая хорошо повторяющийся во времени выход дейтерия при нескольких последовательных выстрелах лазером, что может быть использовано для юстировки диагностической системы. Получена экспериментальная зависимость интегрального выхода дейтерия из исследуемых материалов от плотности энергии в импульсе. Продемонстрирована высокая чувствительность методики, а также слабая зависимость от длительности импульса лазерного излучения. Отмечено значительное изменение концентрации дейтерия в приповерхностном слое вольфрамовой пленки в ходе контакта с атмосферой.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Открытый доступ
    ОТРАЖЕНИЕ ПРОТОНОВ ОТ СЛОИСТО НЕОДНОРОДНЫХ ТВЕРДЫХ ТЕЛ
    (НИЯУ МИФИ, 2023) Лобанова, Л. Г.; Афанасьев, В. П.; Гришаев, М. В.; Ефимов, Н. Е.; Никитин, И. А.; Синельников, Д. Н.; Синельников, Дмитрий Николаевич; Никитин, Иван Андреевич; Ефимов, Никита Евгеньевич; Гришаев, Максим Валерьевич
    Calculation method of reflected from layered inhomogeneous solids light ions density fluxes is constructed. The method is based on analytically calculated and experimentally received reflection functions from homogeneous solids. Transmission function is calculated in Fokker-Plank approximation. Analytical results are verified on a base on comparison with experimental results.