Персона:
Мамедов, Никита Вадимович

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт физико-техничеcких интеллектуальных систем
Институт физико-технических интеллектуальных систем впервые в стране обеспечивает комплексную подготовку специалистов по созданию киберфизических устройств и систем самого различного назначения – основного вида технических устройств середины 21 века. ИФТИС реализует «дуальную» модель образования, в рамках которой направляет студентов на стажировку и выпускников для трудоустройства на передовые предприятия, занятые созданием инновационных киберфизических продуктов, в первую очередь, на предприятия ГК «Росатом». Основным индустриальным партнером ИФТИС является ведущее предприятие ГК «Росатом» — ФГУП «ВНИИА им. Н.Л. Духова».
Статус
Фамилия
Мамедов
Имя
Никита Вадимович
Имя

Фильтры

2017 - 20192
2
2
Сброс фильтров

Настройки

Автор: Kurnaev, V. A. × Тема: Конференции НИЯУ МИФИ ×

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 2 из 2
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Открытый доступ
    ESTIMATES OF He+ SCATTERED FROM THE SURFACE SURVIVAL PROBABILITY USING BINARY COLLISIONS CODES
    (НИЯУ МИФИ, 2019) Mamedo, N. V.; Kurnaev, V. A.; Sinelnikov, D. N.; Mamedov, I. M.; Синельников, Дмитрий Николаевич; Мамедов, Никита Вадимович
    Low-energy (1-20 keV) ion scattering spectroscopy is the widespread method of surface analysis [1,2]. The surface layer composition can be reconstructed from narrow peaks in the energy spectra of the scattered inert gas ions and recoil ions [3]. The main advantage of the surface analysis using inert gas ions is the high sensitivity to the first layer of surface atoms. This is due to the low initial energy of the ions (and therefore small ion penetration depth) and the high neutralization probability of the reflected ions, which increases with the penetration depth of the incident particle into the solid [3]. However, for quantitative surface analysis, it is extremely important to determine the neutralization probability (or the probability of ion survival), since this method usually detects reflected ions only.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Открытый доступ
    LEIS ANALYSIS OF THE W SURFACE DURING WATER VAPOR ADSORPTION
    (НИЯУ МИФИ, 2017) Mamedov, N. V.; Kurnaev, V. A.; Sinelnikov, D. N.; Kolodko, D. V.; Sorokin, I. A.; Мамедов, Никита Вадимович; Колодко, Добрыня Вячеславич; Синельников, Дмитрий Николаевич; Сорокин, Иван Александрович
    The adsorption of water on the surface is one of the main problems in vacuum technology. Since water is a good adsorbent, its adsorption is the reason that prevents the fast pumping of vacuum systems up to ultra-high vacuum. In addition, water vapor adsorption on metal surfaces during plasma surface interaction is a problem [1]. Singly scattered and recoil ions could form narrow peaks in energy spectra and provide information about atomic composition of the first atomic layer giving information about structure and composition of the surface and very sensitivity to the first layer of atoms [2 -5]. It was also shown [6] that the thickness of light element thin layers on the heavy substrate can be analyzed with good depth resolution (~0,3nm) due to scattering of hydrogen ions with keV energies. Application of ion scattering spectroscopy at pressures up to several mTorr is presented in [7, 8]. In this work experimental results of low energy ion spectroscopy (LEIS) of W samples during water vapor adsorption are presented.