2023, Щербань, А. С., Жидков, М. Е., Томилин, С. А., Иваний, Михаил Борисович, Сурин, Виталий Иванович, Щербаков, Александр Антонович

В заводских условиях проведены исследования метода сканирующей контактной потенциометрии (СКП) и продемонстрированы функциональные возможности выявления структурных неоднородностей и технологических дефектов электрическим методом неразрушающего контроля (НК) непосредственно в процессе производства реакторного оборудования.

2023, Козлов, А. В. , Томилин, С. А. , Жидков, М. Е. , Щербань, А. С., Иваний, Михаил Борисович, Сурин, Виталий Иванович, Щербаков, Александр Антонович

Впервые для визуализации результатов электрического неразрушающего контроля предложен метод электрофизической хроматографии. Поверхностные потенциограммы, обычно применяемые для представления результатов сканирующей контактной потенциометрии, заменяются объемными изображениями структурных неоднородностей. Альтернатива имеет очевидные преимущества, поскольку полезная дополнительная информация способна кардинально изменить результаты контроля, что и продемонстрировано на примере сварного соединения наплавки. Сформулированы и реализованы методические рекомендации для построения объемных изображений дефектов. Обсуждаются причины самоэкранирования структурных неоднородностей на разных уровнях фиксации, обусловленные взаимным пространственным перекрытием микрообластей, излучающих волны упругих напряжений. Наибольшие проблемы идентификации дефектов для ЭНК представляют их полная или частичная экранировка. Для метода электрофизической хроматографии необходим хотя бы один экспериментальный массив, полученный из следующих измерений: двойного сканирования поверхностей объекта контроля; двойного одновременного сканирования поверхностей объекта контроля; двойного одновременного сканирования поверхностей объекта контроля с применением синхронизатора излучений по времени или по частоте. В случае сканирования по одной (внешней или внутренней) поверхности координаты дефектов определяются по соответствующим поперечным сечениям и расчетными значениями их глубины с применением частотного и частотно-временного анализа.