Персона: Пришвицын, Александр Сергеевич
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
Статус
Фамилия
Имя
Имя
Результаты поиска
Сравнение удержания дейтерия в вольфрамовых пленках различной толщины
2024, Крат, С. А., Пришвицын, А. С., Сорокин, И. А., Фефелова, Е. А., Гаспарян, Ю. М., Писарев, А. А., Писарев, Александр Александрович, Гаспарян, Юрий Микаэлович, Пришвицын, Александр Сергеевич, Крат, Степан Андреевич, Сорокин, Иван Александрович
Проведено сравнительное исследование содержание дейтерия в со-осажденных из плазмы магнетронного разряда на молибденовые подложки вольфрам-дейтериевых слоях толщиной 50, 250 и 750 нм. Измерения проводились методом in vacuo термодесорбционной спектроскопии без контакта с атмосферой. Проведено моделирование экспериментальных данных в коде ТМАР7, получены концентрации и энергии ловушек, при которых достигается наилучшее согласие с экспериментом. Содержание дейтерия в пленках, осажденных при температуре ~100°С, составило 3–5 ат. %. Показано, что толщина пленок не оказывает существенного влияния на характеристики центров захвата удержания дейтерия, хотя вид спектров для наиболее толстых пленок несколько отличается.