Персона:
Пришвицын, Александр Сергеевич

Загружается...
Profile Picture
Email Address
Birth Date
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Статус
Фамилия
Пришвицын
Имя
Александр Сергеевич
Имя

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 1 из 1
Загружается...
Уменьшенное изображение
Публикация
Открытый доступ

Сравнение удержания дейтерия в вольфрамовых пленках различной толщины

2024, Крат, С. А., Пришвицын, А. С., Сорокин, И. А., Фефелова, Е. А., Гаспарян, Ю. М., Писарев, А. А., Писарев, Александр Александрович, Гаспарян, Юрий Микаэлович, Пришвицын, Александр Сергеевич, Крат, Степан Андреевич, Сорокин, Иван Александрович

Проведено сравнительное исследование содержание дейтерия в со-осажденных из плазмы магнетронного разряда на молибденовые подложки вольфрам-дейтериевых слоях толщиной 50, 250 и 750 нм. Измерения проводились методом in vacuo термодесорбционной спектроскопии без контакта с атмосферой. Проведено моделирование экспериментальных данных в коде ТМАР7, получены концентрации и энергии ловушек, при которых достигается наилучшее согласие с экспериментом. Содержание дейтерия в пленках, осажденных при температуре ~100°С, составило 3–5 ат. %. Показано, что толщина пленок не оказывает существенного влияния на характеристики центров захвата удержания дейтерия, хотя вид спектров для наиболее толстых пленок несколько отличается.