В коллекцию включены полнотекстовый сборник конференции, а также статьи авторов НИЯУ МИФИ. Сортировка "По названию" позволяет вывести сборник в начало поиска.
Обзор
Просмотр 2022_Безопасность ядерной энергетики по Автор "Бреславец, Е. В."
(ВИТИ НИЯУ МИФИ, 2022) Сурин, В. И.; Щербань, А. С.; Щербаков, А. А.; Кравченко, Н. И.; Бреславец, Е. В.; Павличенко, А. В.
Показано, что применение разработанной методики поточечного сканирования около шовных зон сварных соединений позволяет с помощью электрических методов неразрушающего контроля детально исследовать структуру сварного шва, выявляя наличие микроскопических неоднородностей. В этом случае на потенциограмме отображается неоднородное поле остаточных напряжений в объеме образца или, так называемые, области Сен Венана. Эти области излучают волны механических напряжений (деформаций) и приводят к изменениям амплитуды контролируемого сигнала. Локализованные микроскопические неоднородности разделяются по мощности излучения, в результате чего цветовые гаммы рефлексов различаются по форме и окраске на разных уровнях фиксации. Кроме этого, методом сканирующей контактной потенциометрии (СКП) исследован стальной цилиндрический образец с глухими резьбовыми отверстиями на поверхности. Ручное поточечное сканирование выполнено по 19-ти измерительным дорожкам цилиндрической поверхности с помощью медного преобразователя на базе длиной 50 мм.